IC智能卡失效机理研究

英文篇名：Research on the Failure Mechanism of IC Smart Cards
中文刊名：复旦学报(自然科学版)
英文刊名：Journal of Fudan University
作者：朱笑鶤 ; 倪锦峰 ; 王家楫
英文作者：ZHU Xial-kun ; NI Jin-feng ; WANG Jia-ji (National Microanalysis Center ; Fudan University ; Shanghai 200433 ; China)
中文关键词：IC卡 ; 薄/超薄芯片 ; 碎裂 ; 键合
英文关键词：IC card ; thin/ultra-thin Si chip ; fracture ; wire bonding
出版日期：2005-02-25
机构：复旦大学国家微分析中心,复旦大学国家微分析中心,复旦大学国家微分析中心上海200433 ,上海200433 ,上海200433
年：2005
期：01
出版单位：复旦学报(自然科学版)

摘要

IC智能卡使用过程中出现的密码校验失效、数据丢失、应用区不能读写等一系列失效和可靠性问题,严重影响了其在社会生活各领域的广泛应用.分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引线键合断裂、静电放电损伤等失效模式和失效机理,并结合IC卡制造工艺和失效IC卡的分析实例,对引起这些失效的根本原因作了深入探讨,就提升制造成品率、改善可靠性提出应对措施.
Failures of IC smart cards,caused by fracture of thin/ultra-thin Si chip,break of wire bonding or ESD etc. have been seriously affecting their application. The corresponding failure modes and failure mechanisms are studied in detail,and the root cause resulting in such faliures are deeply investigated.Meanwhile,the measures for reducing the failure rate are suggested.

引文

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