用户名: 密码: 验证码:
全岩光片显微组分测定方法
详细信息   下载全文 | 推荐本文 |
  • 标准编号:SY/T 6414-1999
  • 其他标准名称:MACERAL ANALYSIS ON POLISHED SURFACES OF WHOLE ROCKS
  • 标准类型:行业标准
  • 关键词:岩石 ; 显微组分 ; 光片显微组分 ; 组分测定 ; 测定方法
  • 发布日期:1999-05-17
  • 实施日期:1999-12-01
  • CCS:E11
  • ICS:75.020
  • 起草单位:胜利石油管理局地质科学研究院;石油大学(北京)地球科学
  • 归口单位:国家石油和化学工业局
  • 标准状态:无效
  • 页数:7
  • 发布年份:1999
  • 作废日期:2015-03-01
  • 被代替标准:SY/T 6414-2014
  • 采用标准:ISO 7404/3-94,NEQ
  • 引用标准:GB/T 6948-1986;GB/T 16773-1997
  • 适用范围:本标准规定了在偏反光显微镜下,用反射白光和反射荧光测定全岩光片显微组分体积分数的方法。 本标准适用于暗色泥岩、碳酸盐岩和煤光片显微组分的测定。

© 2004-2018 中国地质图书馆版权所有 京ICP备05064691号 京公网安备11010802017129号

地址:北京市海淀区学院路29号 邮编:100083

电话:办公室:(+86 10)66554848;文献借阅、咨询服务、科技查新:66554700