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1.蓝宝石单晶位错密度测量方法
标准编号：GB/T 33763-2017
标准类型：国家标准
发布日期：2017-05-31
实施日期：2017-12-01
2.300mm 硅单晶
标准编号：GB/T 29504-2013
标准类型：国家标准
发布日期：2013-05-09
实施日期：2014-02-01
3.300mm 硅单晶切割片和磨削片
标准编号：GB/T 29508-2013
标准类型：国家标准
发布日期：2013-05-09
实施日期：2014-02-01
4.掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程
标准编号：GB/T 13389-2014
标准类型：国家标准
发布日期：2014-12-31
实施日期：2015-09-01
5.300mm 硅单晶抛光片
标准编号：GB/T 29506-2013
标准类型：国家标准
发布日期：2013-05-09
实施日期：2014-02-01
6.低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法
标准编号：GB/T 24581-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
7.硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法
标准编号：GB/T 24574-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
8.硅单晶
标准编号：GB/T 12962-2005
标准类型：国家标准
关键词：晶体硅 ; 单晶体
发布单位：全国有色金属标准化技术委员会
发布日期：2005-09-19
实施日期：2006-04-01
9.非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
标准编号：GB/T 4326-2006
标准类型：国家标准
发布单位：全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC)
发布日期：2006-07-18
实施日期：2006-11-01
10.锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
标准编号：GB/T 5252-2006
标准类型：国家标准
关键词：锗单晶 ; 位错腐蚀坑 ; 试验锗
发布单位：全国有色金属标准化技术委员会
发布日期：2006-07-18
实施日期：2006-11-01
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