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1.表面化学分析.采用全反射X射线荧光(TXRF)光谱法对硅片表面元素污染物的测定
标准号:BS ISO 14706-2014
国别:英国标准学会
发布日期:2014-07-31
3.工业硅化学分析方法.第5部分:元素含量的测定.X射线荧光光谱法
标准号:GB/T 14849.5-2010
国别:国家质检总局
发布日期:2011-01-14
4.锌精矿中铜、硅、镁、锌、铝、铁含量的测定 X射线荧光光谱法
标准号:SN/T 3604-2013
国别:行业标准-商品检验
发布日期:2013-08-30
5.X-射线荧光法测定煤和焦炭灰分中主要和次要元素的标准试验方法
标准号:ASTM D4326-2011
国别:美国材料与试验协会
发布日期:2011
6.氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第18部分:X射线荧光光谱分析(压片)法测定元素含量
标准号:YS/T 581.18-2012
国别:行业标准-有色金属
发布日期:2012-12-28
7.钨精矿中三氧化钨含量的测定.X射线荧光光谱法
标准号:SN/T 3012-2011
国别:行业标准-商品检验
发布日期:2011-09-09
9.红土镍矿化学分析方法.第19部分:铝、铬、铁、镁、锰、镍和硅量的测定.能量色散X射线荧光光谱法
标准号:YS/T 820.19-2012
国别:行业标准-有色金属
发布日期:2012-11-07
10.滑石中石棉含量测定.偏光显微镜-X射线衍射光谱法
标准号:SN/T 3231-2012
国别:行业标准-商品检验
发布日期:2012-10-23
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