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1.粗铜化学分析方法 第3部分:砷量的测定 方法1 氢化物发生-原子荧光光谱法 方法2 溴酸钾滴定法
标准编号：YS/T 521.3-2009
标准类型：行业标准
发布日期：2009-12-04
实施日期：2010-06-01
2.气态排出流(放射性)活度连续监测设备 第一部分:一般要求
标准编号：GB/T 7165.1-2005
标准类型：国家标准
发布单位：核工业标准化研究所
发布日期：2005-05-18
实施日期：2005-12-01
3.镀锡钢板(带)镀锡量试验方法
标准编号：GB/T 1838-1995
标准类型：国家标准
关键词：带材锡钢 ; 板材 ; 试验 ; 电镀
发布单位：冶金工业部信息标准研究院
发布日期：1995-06-05
实施日期：1995-12-01
4.硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
标准编号：GB/T 6617-1995
标准类型：国家标准
关键词：测量 ; 半导体材料硅 ; 电阻率
发布日期：1995-04-18
实施日期：1995-12-01
5.硅片直径测量方法 光学投影法
标准编号：GB/T 14140.1-1993
标准类型：国家标准
关键词：直径测量 ; 直径硅 ; 光学投影
发布日期：1993-02-06
实施日期：1993-10-01
6.硅外延层晶体完整性检查方法 腐蚀法
标准编号：GB/T 14142-1993
标准类型：国家标准
关键词：外延层 ; 完整 ; 晶体(电子)硅 ; 检验
发布日期：1993-02-06
实施日期：1993-10-01
7.硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
标准编号：GB/T 14141-1993
标准类型：国家标准
关键词：硅 ; 扩散 ; 电阻测量 ; 离子 ; 外延层
发布日期：1993-02-06
实施日期：1993-10-01
8.水质 钡的测定 电位滴定法
标准编号：GB/T 14671-1993
标准类型：国家标准
发布日期：1993-09-18
实施日期：1994-05-01
9.水质 钒的测定 石墨炉原子吸收分光光度法
标准编号：GB/T 14673-1993
标准类型：国家标准
发布日期：1993-09-18
实施日期：1994-05-01
10.硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法
标准编号：YS/T 23-1992
标准类型：行业标准
发布日期：1992-03-09
实施日期：1993-01-01
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