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1.表面化学分析.采用全反射X射线荧光(TXRF)光谱法对硅片表面元素污染物的测定
标准号:BS ISO 14706-2014
国别:英国标准学会
发布日期:2014-07-31
3.金化学分析方法.砷和锡量的测定.氢化物发生-原子荧光光谱法
标准号:GB/T 11066.9-2009
国别:国家质检总局
发布日期:2009-04-15
4.锰矿石 镁、铝、硅、磷、硫、钾、钙、钛、锰、铁、镍、铜、锌、钡和铅含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法
主题词:矿物 ; 锰矿石 ; 化学分析和试验 ; 含量测定 ; 荧光测定法镁铝硅磷硫钾钙钛锰铁镍铜锌钡铅
标准号:GB/T 24519-2009
国别:国家质检总局
发布日期:2009-10-30
5.镍铁.镍、硅、磷、锰、钴、铬和铜含量的测定.波长色散X-射线荧光光谱法(常规法)
主题词:铁合金 ; 镍铁 ; 含量测定铬钴硅磷锰铜 ; 荧光测定法
标准号:GB/T 24198-2009
国别:国家质检总局
发布日期:2009-07-08
9.钢铁.X射线荧光光谱分析法
标准号:JIS G1256-1997
国别:日本工业标准调查会
发布日期:1997-04-20
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