高分辨等离子体质谱法测定高纯二氧化钛中痕量杂质

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• 作者：谢华林聂西度唐有根
• 会议时间：2006-10-14
• 关键词：高分辨电感耦合等离子体质谱 ; 高纯二氧化钛 ; 杂质元素 ; 基体效应 ; 内标元素 ; 标准加入法
• 作者单位：谢华林,聂西度(湖南工学院化工系,衡阳,421008)唐有根(中南大学化学化工学院应化系,长沙,410083)
• 母体文献：中国金属学会第十三届分析测试学术年会--冶金及材料分析测试学术报告会论文集
• 会议名称：中国金属学会第十三届分析测试学术年会——冶金及材料分析测试学术报告会
• 会议地点：北京
• 主办单位：中国金属学会
• 语种：chi

摘要

采用高分辨电感耦合等离子体质谱(HR-ICP-MS)法同时测定高纯二氧化钛中Be,Na,Mg,Al,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Ga,Ge,As,Mo,Cd,Sn,Sb,Ba,Ce,Nd,Sm,Pt,Pb,Bi等26种杂质元素.样品用硫酸铵和浓硫酸分解后,试液直接用HR-ICP-MS法同时上述痕量元素,在高分辨质谱测量模式下避免了大量的质谱干扰,讨论了高浓度钛基体的谱线干扰,比较了钛产生的多原子离子的干扰程度.详细地研究了高浓度钛和硫酸的基体效应,考察了采用内标元素对基体效应的校正,应用标准加入法进行定量分析,确定了实验的最佳测定条件.结果表明,方法的检出限为0.004~0.63 μg/g,回收率为87.6%~106.4%,相对标准偏差(RSD)小于3.5%.方法准确、快速、简便,应用于高纯二氧化钛中杂质元素的测定,满意结果.