微机械陀螺测试与标定技术研究

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• 作者：杨金显袁赣南徐良臣
• 会议时间：2006-09-21
• 关键词：微机械陀螺 ; 速率测试 ; 漂移测试 ; 标定 ; 均匀测试
• 作者单位：杨金显,徐良臣(哈尔滨工程大学,自动化学院,哈尔滨,150001;哈尔滨建成集团,哈尔滨,150030)袁赣南(哈尔滨工程大学,自动化学院,哈尔滨,150001)
• 母体文献：传感技术学报
• 会议名称：第八届中国微米/纳米技术学术年会
• 会议地点：南京
• 主办单位：中国仪器仪表学会
• 语种：chi

摘要

本文参照相关国军标,按照陀螺的主要精度指标、测试方法、标准和IEEE陀螺的测试规范,完成了由美国BEI公司研发的Gyro Chip Ⅱ微机械陀螺的标准化测试.通过在微机械陀螺标定试验中采用均匀测试方法所得到的标度因数等参数,与传统速率试验和漂移测试所得数据相比基本一致,却极大地减少了工作量,降低了测试成本;然后,用统计学中的t检验和F检验的方法分析了标度因数的显著性及方差,进而分析了该微机械陀螺的主要特性,验证了采用均匀设计进行测试的正确性,同时为进一步的建模奠定了基础.