计算机X射线检测技术(CR)空间分辨力的测定
- 作者：金信鸿吴伟邬冠华
- 会议时间：2011-07-30
- 关键词：计算机X射线检测技术 ; 空间分辨力 ; 曝光剂量 ; 管电压
- 作者单位：南昌航空大学 无损检测技术教育部重点实验室,南昌 330063
- 母体文献：第四届无损检测高等教育发展论坛暨电磁超声无损检测技术交流会论文集
- 会议名称：第四届无损检测高等教育发展论坛暨电磁超声无损检测技术交流会
- 会议地点：青岛
- 主办单位：中国机械工程学会
- 语种：chi
摘要
计算机X线成像(CR)是一种先进的成像技术,它采用可重复使用的储存磷光成像板代替胶片完成照相,可获得数字化图像。采用双丝像质计对影响CR成像质量因素之一的空间分辨力进行测定,井对曝光剂量、管电压对CR空间分辨力的影响进行了对比试验。
© 2004-2018 中国地质图书馆版权所有 京ICP备05064691号 京公网安备11010802017129号 地址：北京市海淀区学院路29号 邮编：100083 电话：办公室：(+86 10)66554848；文献借阅、咨询服务、科技查新：66554700 |