全谱电感耦合等离子体光谱技术发展现状及国内外对比分析

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• 作者：WU Jian-fen武建芬HE Miao何淼ZHOU Chao周超HU Xue-qiang胡学强WANG Yu王宇
• 会议时间：2012-10-31
• 关键词：全谱电感耦合等离子体光谱仪 ; 设备机型 ; 系统性能
• 作者单位：WU Jian-fen,HE Miao,ZHOU Chao,HU Xue-qiang(NCS testing technology Co. , Ltd, Beijing 100084, China)武建芬,何淼,周超,胡学强(钢研纳克检测技术有限公司,北京100084)WANG Yu(Institute of Electronics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190, China)王宇(中国科学院电子学研究所,北京100190)
• 母体文献：2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)论文集
• 会议名称：2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)
• 会议地点：北京
• 主办单位：中国金属学会
• 语种：chi

摘要

分析了国内外全谱直读型ICP光谱仪的发展现状,阐述了应用全谱ICP光谱检测技术及研发国产全谱ICP光谱仪(ICP-AES)的必要性。从光源、光学系统、光谱检测系统等方面分别对国内外主流机型的技术特点进行对比和总结,提出了国产全谱ICP光谱仪的差距所在及今后的研究方向,对全谱ICP光谱仪未来的发展趋势和市场前景做了展望。