高频红外吸收法测定玻璃材料中的硫

详细信息    查看全文 | 下载全文 | 推荐本文 |

• 作者：WANG Xue-hua王学华WANG Peng王蓬YU Wei-fang鱼卫芳WEI Zhong-kai魏中凯XU Jing-ran徐井然LI Guang-hui李广会
• 会议时间：2012-10-31
• 关键词：玻璃材料 ; 成分分析 ; 高频红外吸收法 ; 硫元素含量
• 作者单位：WANG Xue-hua,WANG Peng(Central Iron and Steel Research Institute, Beijing 100081; NCS Testing Technology CO. ,Ltd. , Beijing, 100081)王学华,王蓬(钢铁研究总院,北京,100081;钢研纳克检测技术有限公司,北京,100081)YU Wei-fang,LI Guang-hui(Rainbow(HeFei)LCD Glass Ltd Company,HeFei, 230011)鱼卫芳,李广会(彩虹(合肥)液晶玻璃有限公司,合肥,230011)WEI Zhong-kai,XU Jing-ran(NCS Testing Technology CO. ,Ltd. , Beijing, 100081)魏中凯,徐井然(钢研纳克检测技术有限公司,北京,100081)
• 母体文献：2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)论文集
• 会议名称：2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)
• 会议地点：北京
• 主办单位：中国金属学会
• 语种：chi

摘要

液晶玻璃在生产过程中引入的硫导致成品中气泡的产生,直接影响产品质量,传统化学湿法测定硫的含量,速度慢,另外对超低含量的硫不容易测定。本文采用高频—红外吸收法,通过对助熔剂种类及其配比的选择,实现了对玻璃材料中超低硫的快速准确测定,结果令人满意。