β-环糊精交联树脂富集-XPF测定痕量铜、铬的分析方法研究

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• 作者：郑洪涛汤志勇邱海鸥唐红梅饶丽娜
• 会议时间：2011-07-28
• 关键词：β-环糊精 ; 荧光光谱法 ; 交联树脂 ; 铜痕量测定 ; 铬痕量测定
• 作者单位：中国地质大学(武汉)材料与化学学院,中国武汉,430074
• 母体文献：全国地质分析与矿产资源综合利用技术学术研讨会论文集
• 会议名称：全国地质分析与矿产资源综合利用技术学术研讨会
• 会议地点：延安
• 主办单位：中国地质调查局
• 语种：chi

摘要

X射线荧光光谱法(XRF)具有多元素同时测定、样品制备简单快速、分析线性范围宽、效率高、成本低及成熟完备的基体校正理论等特点,因而被广泛应用于用于地质、材料、环境、冶金等样品的常规分析中。但由于XRF的检出限较高,因此限制了其在样品中痕量金属测定方面的应用。本研究采用β-环糊精交联树脂富集后制备成薄样的方法,建立了基于XRF的铜、铬等痕量重金属元素的分析方法。方法充分利用XRF固体直接进样检测和多元素同时测定的优点,克服了传统方法富集后需要洗脱的问题,同时也避免了再次稀释,有效降低了方法的检出限。另外,利用富集过程中的分离作用,去除了大量基体元素,从而有效降低了XRF测试中广泛存在基体效应,无需使用数学校正模型即可获得良好线性。