空间目标轨迹测量的样条约束自校准技术

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• 作者：杨萍刘利生
• 会议时间：2006-10-01
• 关键词：自校准技术 ; 样条约束 ; 轨迹参数 ; 系统误差 ; 空间目标轨迹 ; 轨迹测量
• 作者单位：北京跟踪与通信技术研究所,北京,100094
• 母体文献：中国空间科学学会空间探测专业委员会第十九次学术会议论文集(下册)
• 会议名称：中国空间科学学会空间探测专业委员会第十九次学术会议
• 会议地点：浙江宁波
• 主办单位：中国空间科学学会
• 语种：chi

摘要

空间目标轨迹的精确确定在许多重要领域都是人们非常关注的问题,由于其地面测量系统的观测数据含有较大系统误差,严重影响了定轨精度的进一步提高."EMBET"自校准技术可以较好的解决这个问题,在此基础上发展的轨迹样条约束的"EMBET"技术已经在一些领域得到应用,并取得了很好效果.本 文针对空间目标测量的普遍情况,完成了空间目标轨迹样条约束的自校准公式的推导,特别对具有斜距R.方位角A和高低角E测量体制的样条约束自校准技术,对观测模型进行了改进,使表示形式和解算更具有效性和实用性.