太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
- 标准编号：GB/T 30860-2014
- 其他标准名称：Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells
- 标准类型：国家标准
- 发布日期：2014-07-24
- 实施日期：2015-04-01
- 标准分类：方法
- CCS：H21
- ICS：77.040
- 起草单位：中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、有研半导体材料股份有限公司、特变电工新疆新能源股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心
- 起草人：徐自亮、任皓、陈佳洵、李锐、孙燕、熊金杰等
- 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管单位：国家标准化管理委员会
- 执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 标准状态：有效
- 页数：0
- 发布年份：2014
- 部分代替标准：,
- 适用范围：本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)的表面粗糙度及切割线痕的接触式或非接触式轮廓测试方法。本标准适用于通过线切工艺加工生产的单晶和多晶硅片。如果需要适用于其他产品,则需相关各方协商同意。
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