利用高光谱扫描技术检测小麦叶片叶绿素含量

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• 出版年：2010
• 作者：黄慧；王伟；彭彦昆；吴建虎；高晓东；王秀；张静
• 单位1：中国农业大学工学院
• 出生年：1986
• 学历：硕士研究生
• 语种：中文
• 作者关键词：叶绿素含量；高光谱；无损；小麦
• 起始页：1811
• 总页数：4
• 经费资助：国家“十一五”科技支撑技术项目（2007BAD89B04）资助
• 刊名：光谱学与光谱分析
• 是否内版：否
• 刊频：月刊
• 创刊时间：1981
• 主管单位：中国科学技术协会
• 主办单位：中国光学学会
• 主编：黄本立
• 地址：北京市海淀区魏公村学院南路76号钢铁研究总院
• 邮编：100081
• 电子信箱：chngpxygpfx@vip.sina.com
• 网址：http://www.gpxygpfx.com
• 卷：30
• 期：7
• 期刊索取号：P342.80 220
• 数据库收录：物理类、化学类核心期刊
• 核心期刊：物理类、化学类核心期刊

摘要

利用高光谱扫描技术对小麦叶片进行无损检测试验，探索精确测定小麦叶绿素含量的方法，为农作物生长状况、植物病理诊断等提供科学依据。研究选取90个样本作为校正集，30个样本作为预测集，获取叶片的高光谱反射图像，同时用传统的分光光度计方法测定其叶绿素含量。选取波长491～887nm范围光谱，用多元散射校正、一阶导数、二阶导数3种方法处理，利用偏最小二乘法和逐步线性回归法分别建立了小麦叶片叶绿素含量与光谱信号间的数学模型。研究发现多元散射校正（MSC）结合二阶导数光谱的多元线性回归（SMLR）模型的效果较优，模型校正集和预测集决定系数分别为0.82和0.79，校正均方根误差和预测均方根误差分别为0.69和0.71。研究结果表明可以利用高光谱扫描技术检测小麦叶片叶绿素含量。