热表面电离质谱法测定贫化铀样品痕量铀同位素比值及含量

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• 责任者：郝樊华^c中国工程物理研究院核物理与化学研究所^d1963^f研究员 ; 刘雪梅 ; 胡思得 ; 龙开明
• 刊名：岩矿测试
• 出版年：2010
• 卷期：29^b4总122
• 关键词：质谱法 ; 铀20^a痕量元素分析 ; 原理 ; 预处理 ; 同位素稀释法 ; 准确度 ; 同位素比值30^a热表面电离质谱法 ; 不确定度
• 页码：373～376
• 索书号：P340.6/357-2
• 图表：^c表5参15插图
• 分类号：2300
• 文摘期号：2011/02

摘要

选用磷酸为离子流发射剂，热表面电离质谱法分析纳克量级贫化铀样品的铀同位素比值，方法最大相对标准偏差＜2.9%。以²³³U为稀释剂，采用同位素稀释法对铀的含量进行测定，扩展不确定度为2.4%(K =2)。研究表明，在纳克量级的铀同位素比值测定中，来自铼带等铀本底的干扰影响不容忽视，需要进一步研究并扣除。