一种基于FPGA的新型误码仪设计

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英文篇名：Design of new type bit error tester based on FPGA 中文刊名：电子测试 英文刊名：Electronic Test 作者：俞斌 英文作者：Yu Bin(Hunan Institute of Technology ; Hengyang 421008 ; China) 中文关键词：误码仪 ; FPGA ; LCM 英文关键词：BERT ; FPGA ; LCM 出版日期：2008-01-05 机构：湖南工学院 衡阳421008 年：2008 期：01 出版单位：电子测试

摘要

本文设计主要分为误码仪硬件电路的设计和FPGA内部功能的软件设计两个部分,硬件设计主要是FP-GA的外围电路设计,RS232电路设计,E2PROM电路设计以及按键和指示灯等;软件设计主要是实现了传输速率在1～24MHz内8种速率可调、29-1位、215-1位、223-1位3种序列长度的伪随机码码型可选、可手动发送误码、误码检测以及FPGA片外资源总体控制等误码仪主要功能。
There are mainly 2 part designs in this paper, hardware design and software design which based on FPGA. The hardware design is mainly about the circuits around FPGA, RS232 circuits, E2PROM circuits, key and led layout designs.Software design are realized some functions like 8 level speed control during 1 to 24 MHz, 3 code type to choose 29-1,215-1,223-1, sent error code manually, bit error rate test and some other resources control around FPGA, and so on.

引文

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