高速高精度ADC的测试方法

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	作者：孙承志 中文刊名：JCDI 英文刊名：China Integrated Circuit 机构：是德科技; 出版日期：2019-03-05 出版单位：中国集成电路 年：2019 期：v.28;No.238 语种：中文; 页：JCDI201903019 页数：5 CN：03 ISSN：11-5209/TN 分类号：74-78

摘要

<正>1前言随着高速数字电路的发展,高速ADC在航天国防、数字通信、卫星通信、图像处理等众多领域得到了非常广泛的应用。ADC的采样率和垂直分辨率越来越高,对ADC指标的测试也提出了更高要求。2测试参数2.1静态参数ADC的测试指标和参数主要分为静态参数和动态参数两类。其中静态参数又称线性参数,反映的是器件内部电路的误差。对ADC来说,这些内部误
        

引文