基于后端物理流程的触发器加固设计及验证

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英文篇名：Automatic Radiation Harden Design of DFF Based on Backend Physical Flow 作者：孟少鹏 ; 王秋实 ; 刘冠男 ; 惠惠 英文作者：MENG Shao-peng;WANG Qiu-shi;LIU Guan-nan;HUI Hui;No.38th Research Institute, China Electronic Technology Group Corporation; 关键词：触发器 ; 三模冗余 ; 辐射加固 ; 网表 英文关键词：Data flip-flop;;Triple modular redundancy;;Radiation harden;;Netlist 中文刊名：JCDI 英文刊名：China Integrated Circuit 机构：中国电子科技集团公司第38研究所; 出版日期：2019-05-05 出版单位：中国集成电路 年：2019 期：v.28;No.240 语种：中文; 页：JCDI201905014 页数：5 CN：05 ISSN：11-5209/TN 分类号：61-64+77

摘要

在太空等辐射环境条件下,数字集成电路内部的触发器受到辐射效应影响,易发生单粒子翻转错误。本文提出了一种数字电路触发器自动冗余加固方案,基于后端物理平台实现触发器的自动冗余及判决功能。利用寄存器堆网表进行试验评估,评估表明加固后的网表满足加固要求,并且通过逻辑一致性检查,保证了加固后网表的功能正确性。
        The data flip-flop in Integrated circuit may be affected by the single event upset resulting from the radiation effect in outer space.This paper presents a method for automatic harden of data flip-flop,including automatic redundancy and vote function, based on back-end physical design platform. The proposed schemeis verified by the netlist of register file. The experiments show that, the harden netlist can meet the design requirements, and pass logic equivalence check which ensures the validity of netlist function.

引文

[1] Zheng Sheng, Zhao Yuan-fu. Introduction Rad IC[M]. Beijing:Tsinghua University Press, 2011.(in Chinese).
    [2]曹靓,王文,封晴。一种带自刷新功能的三模冗余触发器设计。电子与封装,2017(171):25-27.
    [3]刘必慰,ASIC中触发器三模冗余的自动设计与验证,中国科技论文在线.