恶劣工作环境中的开关和多路复用器设计

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英文篇名：Design of Switch and Multiplexer in Bad Working Environment 作者：杨佳一 ; 刘天翔 英文作者：YANG Jiayi;LIU Tianxiang;School of electrical and electronic engineering, North China Electric Power University; 关键词：模拟开关 ; 多路复用器 ; 过电压 ; 闩锁 英文关键词：analog switch;;multiplexer;;overvoltage;;latch 中文刊名：JCDL 英文刊名：Application of IC 机构：华北电力大学电气与电子工程学院; 出版日期：2018-02-10 出版单位：集成电路应用 年：2018 期：v.35;No.293 基金：河北省科技型中小企业技术创新资金(12C26211300763) 语种：中文; 页：JCDL201802008 页数：6 CN：02 ISSN：31-1325/TN 分类号：35-40

摘要

描述了工程师在将模拟开关和多路复用器设计到恶劣环境下所用模块中时面临的挑战,并提供了一些一般解决方案建议,以供电路设计人员用来保护容易损坏的器件。另外,介绍了一些新款集成开关和多路复用器,这些器件在过压保护、防闩锁特性和故障保护上均有所改善,能够处理常见应力状况。
        This paper describes the challenges faced by engineers in designing analog switches and multiplexers to modules in harsh environments, and provides some general solutions for designers to protect vulnerable devices. In addition, some new integrated switches and multiplexers are introduced. These devices are improved in overvoltage protection, latch up protection and fault protection, which can handle common stress conditions.

引文

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    [5]选择合适的开关或多路复用器[EB/OL].http://www.analog.com.