合成渣的X-射线荧光光谱分析
- 作者：GENG Jin-feng耿金锋ZHU Qi-mao朱启茂YAN Wei闫巍
- 会议时间：2012-10-31
- 关键词：炼钢工业 ; 合成渣 ; X-射线荧光光谱仪 ; 成分分析 ; 基体校正
- 作者单位：GENG Jin-feng,ZHU Qi-mao,YAN Wei(Qinhuangdao Shouqin Metal Material Co. , Ltd. , Qinhuangdao 066326 ,China)耿金锋,朱启茂,闫巍(秦皇岛首秦金属材料有限公司,河北秦皇岛 066326)
- 母体文献：2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)论文集
- 会议名称：2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)
- 会议地点：北京
- 主办单位：中国金属学会
- 语种：chi
摘要
合成渣采用熔融法制样。用X-射线荧光光谱仪对合成渣中的Cao、CaF2、SiO2、Al2O3、MgO、S、P进行定量分析,建立每个成份的工作曲线,并对7种成份进行基体校正回归计算,此方法的建立与应用可实现合成渣准确、快速分析,提高分析准确度及分析速度。