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Generation of compact test sets and a design for the generation of tests with low switching activity.
详细信息   
  • 作者：Kumar ; Amit.
  • 学历：Doctor
  • 年：2014
  • 毕业院校：The University of Iowa
  • Department：Electrical and Computer Engineering.
  • ISBN：9781321518474
  • CBH：3680089
  • Country：USA
  • 语种：English
  • FileSize：1342810
  • Pages：157
文摘

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