氮化硅结合碳化硅制品化学分析方法.邻二氮杂菲光度法测定三氧化二铁量

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标准编号：YB/T 174.4-2000
其他标准名称：CHEMICAL ANALYSIS FOR SILICON NITRIDE BONDED SILICON CARBIDE PRODUCT.DETERMINATION OF IRON OXIDE CONTENT.O-PHENANTHROLINE PHOTOMETRIC METHOD
标准类型：行业标准
关键词：氮化硅制品 ; 碳化硅制品 ; 化学分析 ; 分析方法 ; 三氧化二铁 ; 含量测定 ; 邻二氮杂菲光度法
发布日期：2000-07-26
实施日期：2000-12-01
摘要：本标准规定了邻二氮杂菲光度法测定三氧化二铁的方法提要、试剂、仪器、试样、分析步骤、分析结果的表述及允许差。本标准适用于氮化硅结合碳化硅制品中三氧化二铁的测定。测定范围:三氧化二铁0.10%~1.50%.
CCS：Q44
ICS：81.080
起草单位：洛阳耐火材料研究院
标准状态：无效
页数：6
发布年份：2000
作废日期：2011-08-15

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