X射线荧光光谱的基本参数法

详细信息    X射线荧光光谱的基本参数法

• 责任者：卓尚军 ; 陶光仪 ; 韩小元
• 关键词：X射线荧光光谱法 ; X射线荧光光谱
• 出版日期：2010
• 语种：chi
• 出版者：上海科学技术出版社
• 页数：3, 8, 379页
• 出版地：上海
• 第一责任说明：卓尚军, 陶光仪, 韩小元著
• 定价：CNY68.00
• 尺寸：22cm
• 分类号：a155.435
• ISBN：978-7-5478-0507-7

MARC全文

01h0022541；20111128142344.0；978-7-5478-0507-7；精装；CNY68.00；20110607d2010 km y0chiy0121 ea；chi；CN；310000；ak z 000yy；r；X射线荧光光谱的基本参数法；X she xian ying guang guang pu de ji ben can shu fa；卓尚军, 陶光仪, 韩小元著；上海；上海科学技术出版社；2010；3, 8, 379页；图, 表；22cm；有书目。；本书介绍了X射线荧光光谱分析中的基本参数法的基本原理、方法中用到的各种基本参数、理论荧光强度计算、散射对理论荧光强度的影响、多层膜样品中荧光强度计算的问题、基本参数法的实现和应用实例，书末还列出了重要的基本参数。；X射线荧光光谱法 ; X射线荧光光谱；荧光分析；ct；O657.34；4；a155.435；卓尚军 ; 陶光仪 ; 韩小元；zhuo shang jun ; tao guang yi ; han xiao yuan；著 ; 著 ; 著；CN；NGL；20111122；GNL；wbbz1101；h1 ; rCNY68.00；155.435；353