X-射线荧光光谱法同时测定镍红土矿中主次成分

详细信息   全文下载|推荐本文 |

• 出版年：2008
• 作者：张建波；林力；王谦；刘在美；李劲竹
• 单位1：宁波出入境检验检疫局
• 出生年：1980
• 学历：硕士研究生
• 职称：工程师
• 语种：中文
• 作者关键词：镍红土矿；X-射线荧光光谱法；校准样品配制；主次成分
• 起始页：15
• 总页数：5
• 刊名：冶金分析
• 是否内版：否
• 刊频：月刊
• 创刊时间：1981
• 主办单位：钢铁研究总院　中国金属学会
• 主编：王海舟
• 电子信箱：yjfx@analysis.org.cn yjfx@chinajournal.net.cn
• 网址：http://wwwyejinfenxi.cn
• 卷：28
• 期：1
• 期刊索取号：P340.6262-1
• 数据库收录：美国工程信息工司EI数据库收录期刊
• 核心期刊：全国中文核心期刊；美国“CA”千种表中国化学化工类核心期刊

摘要

本文采用铁矿标准样品和高纯氧化物、标准溶液混合配制镍红土矿的校准样品，建立了X-射线荧光光谱法同时测定镍红土矿中MgO，Al₂O₃，SiO₂，P，S，K₂O，CaO，TiO₂，V₂O₅，Cr₂O₃，Mn，Fe，Co，Ni等成分的方法。采用加入标准溶液的方法，保证了校准样品配制中Ni，Co含量的准确性。并对熔剂选择、熔融条件及基体效应校正等进行了探讨。该方法用于镍红土矿中主次成分的测定，测定结果与化学法分析值吻合，相对标准偏差（n=7）为0.15%～2.86%，能完全满足镍红土矿的检测需要。