同步辐射X射线荧光微探针技术中地质标样的研究^①

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• 出版年：1992
• 作者：安庆骧；詹秀春；巢志瑜；吴应荣
• 单位1：地矿部岩矿测试技术研究所
• 语种：中文
• 作者关键词：同步辐射X荧光微探针；岩石标准样品
• 起始页：252
• 总页数：4
• 刊名：岩矿测试
• 是否内版：否
• 刊频：季刊
• 创刊时间：1982
• 主办单位：中国地质学会岩矿测试专业委员会 地质矿产部岩矿测试技术研究所
• 主编：马光组
• 地址：北京阜外百万庄路26号
• 邮编：100037
• 卷：11
• 期：3
• 期刊索取号：P340.6357-2

摘要

将国家级标样GSR－1至GSR－7研磨至颗粒度＜2μm，在大气光路中以光斑尺寸为100μm×100μm的同步辐射X射线(白光)激发，Si(Li)半导体探测器采集荧光信号。研究了这些岩石标样中元素(K、Ca、Ti、Mn、Fe、Zn、Rb、Sr、Zr)的X射线荧光强度平均值的相对标准偏差与取样量(点数或面积)的关系，测算了使用这套国家岩石标准样的取样量(点数或面积)，并确定了实用的测量方法。为同步辐射X射线荧光微探针扫描技术提供一套(7个)适用的岩石标准样。