MCS-51系列单片机功能测试方法研究

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• 出版年：1994
• 作者：汪保友；严晓浪
• 单位1：杭州电子工业学院微电子CAD所
• 译者：朱培
• 语种：中文
• 作者关键词：单片机，测试生成，故障诊断,计算机辅助测试,功能测试法，微处理器测试?
• 起始页：56
• 总页数：11
• 刊名：计算机应用与软件
• 是否内版：是
• 卷：11
• 期：4

摘要

本文介绍了对MOS-51系列单片机进行测试所采用的理论和算法。我们对单片机的测试分为两个阶段。笫一阶段称为初测阶段，采用从大开始法。在这一阶段测试出故障的芯片就被淘汰了，不再进行严格的测试。第二阶段称为详测阶段，这一阶段釆用结构与功能兼测法，试图把故障定位到寄存器一级。这一阶段，首先按单片机的总体结构框图进行模块划分，再根据系统图理论，对每一模块建立其故障模型，结合从小开始法和最小指令覆盖法:给出测诚算法。