Hilbert谱分析在探地雷达薄层识别中的应用

详细信息   

• 责任者：张先武^c中国科学院电子学研究所电磁辐射与探测技术中国科学院重点实验室^d1983^e博士研究生 ; 高云泽 ; 方广有
• 刊名：地球物理学报
• 出版年：2013
• 卷期：56^b8
• 页码：2790～2798
• 索书号：P260.66/141
• 图表：^c参24插图
• 文摘期号：2014/01

摘要

针对实际勘探中的需要，该文对薄层的电磁波反射特性进行了深入研究。薄层在反射电磁波时，会对入射电磁波进行滤波作用。薄层的类型和厚度会影响其滤波特性，利用此特点，该文将Hilbert谱分析方法引入到薄层识别中。该方法能将探地雷达对递变型薄层的垂直分辨率提升至λ/8。该文利用该方法对实测探地雷达资料进行了层位识别研究，该方法能很好地提高探地雷达的层位识别能力。