石榴辉石岩的电导率及对岩浆底侵的约束

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• 责任者：门清波^c南京大学内生金属矿床成矿机制研究国家重点实验室^d1987^e硕士研究生 ; 王勤 ; Bagdassarov ; N. ; 夏群科^c中国科学技术大学 ; 樊祺诚^c中国地震局地质研究所
• 刊名：岩石矿物学杂志
• 出版年：2012
• 卷期：32^b5总145
• 页码：652～662
• 索书号：P306/357-1
• 图表：^c表2参56插图
• 文摘期号：2014/03

摘要

河北汉诺坝新生代玄武岩携带的石榴辉石岩为岩浆底侵于上地幔顶部40～45 km形成的堆晶岩，是壳—幔过渡带的典型样品。该文使用Solartron1260阻抗分析仪，测量1.2 GPa和380～900℃下石榴辉石岩WD958 的电阻率。样品电导率(σ)与温度的关系遵守Arrhenius方程：σ= σ₀exp( -ΔH / kT ) ，其中T 是样品的绝对温度，ｋ是Boltzmann 常数，指前因子σ₀为97.5 S/ m，活化焓ΔH 为1.27 eV。使用傅立叶红外光谱仪测定样品中单斜辉石的平均含水量为117×10^-6H₂O，橄榄石无水，石榴子石的含水量因蚀变无法测定。使用Hashin‐Shtrikman平均方法计算样品WD958 的电导率，发现样品可看作由含水单斜辉石、无水石榴子石和无水橄榄石组成的高阻集合体，电导率同时受小极化子导电和质子导电的影响。如果原位的石榴辉石岩的矿物含水量保持平衡，其电导率将提高1个数量级，质子导电成为主控导电机制。石榴辉石岩在高温的壳—幔过渡带(～1 000℃)表现为高导层，而在正常地温梯度下，与尖晶石二辉橄榄岩的电导率近似，为高阻层。因此，在岩浆底侵作用下，电性上的壳—幔边界将随着温度和含水量的变化而改变。