基于热红外发射光谱的岩石SiO₂定量反演模型研究

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• 责任者：杨杭^c中国科学院遥感应用研究所遥感科学国家重点实验室^d1979^f助理研究员 ; 张立福 ; 黄照强^c中国冶金地质总局矿产资源研究院 ; 张学文 ; 童庆禧
• 刊名：光谱学与光谱分析
• 出版年：2012
• 卷期：32^b6
• 关键词：岩石 ; 二氧化硅 ; 发射光谱分析20^a实际矿物分析 ; 反演问题 ; 定量分析
• 页码：1611～1615
• 索书号：P342.06/220
• 图表：^c表2参13插图
• 分类号：2300
• 文摘期号：2013/01

摘要

利用野外测量21种地表岩石的高光谱发射率数据，进行包络线去除和归一化处理后，运用逐步回归法进行波段选择，分析了SiO₂含量与包络线去除后特征波段发射率的定量关系。在此基础上，通过比较12种SiO₂光谱指数，建立了定量反演SiO₂含量的最优模型。结果表明：构建的SiO₂光谱指数能有效预测SiO₂含量，其中基于11.18和12.36 μm波段的归一化SiO₂光谱指数(normalization silicon dioxide index，NSDI)的预测能力最高；与回归模型相比，光谱指数更简单、实用；研究结果在岩石种类鉴定及SiO₂含量的高精度提取方面有重要应用价值。