硅酸盐玻璃和熔体中硅和铝的配位与局部结构：Ｋ边Ｘ射线吸收光谱研究

详细信息   

• 责任者：李迪恩^c中心大学地质系
• 刊名：矿物岩石地球化学通报
• 出版年：1997
• 卷期：１６^b２
• 关键词：Ｘ射线光谱学 ; 配位体 ; 高温高压实验20^a熔融 ; 硅酸盐矿物 ; 非晶质矿物 ; 吸收光谱学 ; 硅 ; 铝
• 页码：７５～８０
• 索书号：P271.067/967
• 图表：参１４插图
• 分类号：0200
• 文摘期号：1998/04

摘要

高压下硅酸盐矿物和玻璃中的硅可以形成八面体配位，但在通常的低压硅酸盐玻璃中，硅和铝为四面体配位。实验采用同步辐射的硅Ｋ边Ｘ射线吸收光谱研究了硅在ＳｉＯ２Ｐ２Ｏ５和Ｎａ２ＯＳｉＯ２Ｐ２Ｏ５低压磷硅酸盐玻璃中硅的结构与配位。结果表明，当Ｐ２Ｏ５的含量低于３２％（ｍｏｌ）时，所有的硅原子都为四面体配位，但当Ｐ２Ｏ５的含量大于３２％（ｍｏｌ）时，部分硅原子变成八面体配位，而且八面体配位硅的相对含量随玻璃中Ｐ２Ｏ５含量的升高而增大。铝的Ｋ边Ｘ射线吸收光谱首次提供了直接的实验证据，证明在ＮａＡｌＳｉ２Ｏ６和ＮａＡｌＳｉ３Ｏ８体系的硅酸盐玻璃和熔体中，由压力变化引起铝由四次变成五次和六次配位。天然硅酸盐熔体与熔体的结构密切有关，铝的配位由四次增加到五次和六次，导致其密度和粘度增大、扩散系数减小。（韩永吉）