EILog高分辨率双侧向井眼影响及校正效果分析

详细信息   

• 责任者：冯琳伟^c中国石油集团测井有限公司^d1976^f工程师 ; 成志刚 ; 孙宝佃 ; 钮宏 ; 顾庆荣
• 刊名：测井技术
• 出版年：2009
• 卷期：33^b6总205
• 关键词：双侧向测井20^a地球物理测井 ; 测井曲线 ; 高分辨率法 ; 钻孔 ; 电阻率 ; 仪器 ; 数值模拟
• 页码：530～534
• 索书号：P635.06/649-2
• 图表：^c参4插图
• 分类号：2100
• 文摘期号：2010/07

摘要

高分辨率双侧向测井仪器(HRDL)是EILog测井系统中重要的常规测井仪器之一。该仪器在保持常规双侧向测井探测深度的基础上，具有电极系短、纵向分辨率高(0.4 m)、易于现场组合测井等优点。但是，高分辨率双侧向过聚焦工作原理使得井眼影响复杂，在低电阻率地区井眼影响非常严重，深、浅侧向测量值往往高于常规双侧向测井测量值，必须进行有效的井眼校正。电极系特性不同，高分辨率双侧向经过井眼校正后的曲线与常规双侧向接近，局部会有差异。除视电阻率外，井径和泥浆电阻率是井眼校正中的2个关键参数。通过对高分辨率双侧向测井井眼校正图版分析，说明低电阻率区块进行井眼校正的必要性，给出仪器理论地层模型低电阻率测井响应对比。利用最优化方法分段拟合的井眼校正算法已集成到地面采集软件中，并且可以进行全井段实时校正。在大部分低电阻率地区，深、浅侧向测量曲线经过有效的井眼校正，可以明显改善测量曲线的质量。